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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- タイトルよみ
- VLSI テスト ニ オケル テスト パターン セイセイ ギジュツ オヨビ シンゴウ デンパ ヒョウカ シュホウ ニ カンスル ケンキュウ
- 著者・編者
- 土屋秀和 [著]
- 著者標目
- 土屋, 秀和 ツチヤ, ヒデカズ
- 出版事項
- 出版年月日等
- [2010]
- 出版年(W3CDTF)
- 2010
- 数量
- 1冊
- 授与機関名
- 東海大学
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