VLSIテストにおけるテストパターン生成技術および信号伝播評価手法に関する研究

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Material Type: 博士論文
Title: VLSIテストにおけるテストパターン生成技術および信号伝播評価手法に関する研究
Title Transcription: VLSI テストニオケルテストパターンセイセイギジュツオヨビシンゴウデンパヒョウカシュホウニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 土屋秀和 [著]
Author Heading: 土屋, 秀和ツチヤ, ヒデカズ
Publication, Distribution, etc.: [土屋秀和]
Publication Date: [2010]
Publication Date (W3CDTF): 2010
Extent: 1冊
Degree grantor/type: 東海大学
Date Granted: 平成22年3月24日
Date Granted (W3CDTF): 2010
Dissertation Number: 甲第776号
Degree Type: 博士 (工学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2010-E489
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000010963907
http://id.ndl.go.jp/bib/000010963907
Bibliographic Record Category (NDL): 213