Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010 : Monterey, California, United States. : 2nd of the SPIE scanning microscopy symposia : scanning microscopy 2010 meeting : May 2010, Monterey, CA. (SPIE Proceedings ; 7729)

Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010 : Monterey, California, United States. : 2nd of the SPIE scanning microscopy symposia : scanning microscopy 2010 meeting : May 2010, Monterey, CA.

(SPIE Proceedings ; 7729)

国立国会図書館請求記号: M17-10-4242
国立国会図書館書誌ID: 000010986956

資料種別: 図書

著者: Postek, Michael T.

出版者: SPIE

出版年: c2010.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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一般注記：: Papers.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9780819482174
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Scanning microscopy 2010 : 17-19 May 2010 : Monterey, California, United States. : 2nd of the SPIE scanning microscopy symposia : scanning microscopy 2010 meeting : May 2010, Monterey, CA.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 7729
タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering, 0277-786X ; v. 7729.
著者標目: Postek, Michael T.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2010.
出版年（W3CDTF）: 2010
数量: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: SPIE scanning microscopy
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Scanning electron microscopes -- Congresses.
LCC: QH212.S3
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-10-4242
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000010986956
http://id.ndl.go.jp/bib/000010986956
OCLC番号: 656784720
https://www.worldcat.org/oclc/656784720
整理区分コード: 215