2009 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : (MTDT 2009) : Hsinchu, Taiwan : 31 August-2 September 2009. : MTDT2009 : Aug 2009, Hsinchu, Taiwan.

著者: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (17th : 2009 : Hsin-chu shih, Taiwan)

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資料種別: 図書
ISBN: 9781424451852
タイトル: 2009 IEEE international workshop on memory technology, design and testing : (MTDT 2009) : Hsinchu, Taiwan : 31 August-2 September 2009. : MTDT2009 : Aug 2009, Hsinchu, Taiwan.
著者標目: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing (17th : 2009 : Hsin-chu shih, Taiwan)
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2009.
出版年（W3CDTF）: 2009
数量: 93 p. : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: 2009 IEEE international workshop on memory technology, design, and testing : (MTDT 2009) : Hsinchu, Taiwan : 31 August 02 September 2009
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Semiconductor storage devices -- Testing -- Congresses.
Random access memory -- Congresses.
LCC: TK7895.M4
NDLC: M17
一般注記: Abstracts and papers.
IEEE cat no CFP09028-PRT.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-11-564
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000011008804
http://id.ndl.go.jp/bib/000011008804
OCLC番号: 501813714
https://www.worldcat.org/oclc/501813714
整理区分コード: 215