Automation in on-product test clock handling and advancement in test compression technology for VLSI test process enhancement

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Automation in on-product test clock handling and advancement in test compression technology for VLSI test process enhancement
• 著者・編者: Md.Anis Uzzaman [著]
• 著者標目: Md.Anis Uzzaman エムディー アニス ウッザマン
• 出版事項: [Md.Anis Uzzaman]
• 出版年月日等: [2010]
• 出版年（W3CDTF）: 2010
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: VLSIテスト工程におけるオンプロダクト・テストクロック生成の自動化とテスト圧縮技術の向上に関する研究 VLSI テスト コウテイ ニ オケル オンプロダクト テスト クロック セイセイ ノ ジドウカ ト テスト アッシュク ギジュツ ノ コウジョウ ニ カンスル ケンキュウ
• 授与機関名: 首都大学東京
• 授与年月日: 平成22年3月25日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2010
• 報告番号: 甲第160号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2010-M149
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011079344; http://id.ndl.go.jp/bib/000011079344
• 整理区分コード: 213