Automation in on-product test clock handling and advancement in test compression technology for VLSI test process enhancement

• Material Type: 博士論文
• Title: Automation in on-product test clock handling and advancement in test compression technology for VLSI test process enhancement
• Author/Editor: Md.Anis Uzzaman [著]
• Author Heading: Md.Anis Uzzaman エムディー アニス ウッザマン
• Publication, Distribution, etc.: [Md.Anis Uzzaman]
• Publication Date: [2010]
• Publication Date (W3CDTF): 2010
• Extent: 1冊
• Alternative Title: VLSIテスト工程におけるオンプロダクト・テストクロック生成の自動化とテスト圧縮技術の向上に関する研究 VLSI テスト コウテイ ニ オケル オンプロダクト テスト クロック セイセイ ノ ジドウカ ト テスト アッシュク ギジュツ ノ コウジョウ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 首都大学東京
• Date Granted: 平成22年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 2010
• Dissertation Number: 甲第160号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2010-M149
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000011079344; http://id.ndl.go.jp/bib/000011079344
• Bibliographic Record Category (NDL): 213