2010 17th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2010) : Singapore : 5-9 July 2010 : Jul 2010, Singapore.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424455966
• ISSN: 19461542
• タイトル: 2010 17th IEEE international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits : (IPFA 2010) : Singapore : 5-9 July 2010 : Jul 2010, Singapore.
• 著者標目: International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (17th : 2010 : Singapore); IEEE Reliability/CPMT/ED Singapore Chapter.
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2010.
• 出版年（W3CDTF）: 2010
• 数量: 364 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits--Reliability--Congresses.; Integrated circuits--Testing--Congresses.; Semiconductors--Failures--Congresses.; Integrated circuits--Defects--Congresses.
• LCC: TK7874
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; IEEE cat no CFP10777-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 一次資料へのリンクURL: IEEE Xplore; http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=5519247
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-238
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011245807; http://id.ndl.go.jp/bib/000011245807
• OCLC番号: 701255522; https://www.worldcat.org/oclc/701255522
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215