IEEE symposium on visual analytics science and technology 2008 : proceedings : Columbus, Ohio USA : October 21-23, 2008 : held co-jointly with VisWeek 2008, October 19-24 : VAST symposium : VAST08 : Oct 2008, Columbus, OH.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424429356
• タイトル: IEEE symposium on visual analytics science and technology 2008 : proceedings : Columbus, Ohio USA : October 21-23, 2008 : held co-jointly with VisWeek 2008, October 19-24 : VAST symposium : VAST08 : Oct 2008, Columbus, OH.
• 著者標目: IEEE Symposium on Visual Analytics Science and Technology (2008 : Columbus, Ohio); Ebert, David.; Ertl, Thomas, 1957-
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2008.
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: 216 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• その他のタイトル: IEEE symposium on visual analytics science and technology 2008 : Columbus, Ohio, USA : October 19-24, 2008.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Digital computer simulation--Congresses.; Visual analytics--Congresses.; Information visualization--Congresses.; Computer graphics--Congresses.
• LCC: QA76.9.C65
• DDC: 006.6
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: An abstract and papers.; "In its third year, the VAST Symposium had (...)" -- pref.; IEEE cat no CFP08VAS-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-222
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011246577; http://id.ndl.go.jp/bib/000011246577
• LC control number: 2009417579; https://lccn.loc.gov/2009417579
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215