International conference on extended defects in semiconductors 2010 : (EDS 2010) : Brighton, United Kingdom : 19-24 September 2010 : biennial international conference on extended defects in semiconductors : EDS2010 : EDS 15 : Sep 2010, Brighton, UK.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781617827655
• ISSN: 17426596
• ISSN（シリーズ）: 17426588
• タイトル: International conference on extended defects in semiconductors 2010 : (EDS 2010) : Brighton, United Kingdom : 19-24 September 2010 : biennial international conference on extended defects in semiconductors : EDS2010 : EDS 15 : Sep 2010, Brighton, UK.
• シリーズタイトル: Journal of Physics: Conference Series ; 281
• タイトル標目: Journal of physics. Conference series ; v. 281.
• 著者標目: International Conference on Extended Defects in Semiconductors (2010 : Sussex University)
• 出版事項: Bristol : Institute of Physics
• 出版年月日等: c2010.
• 出版年（W3CDTF）: 2010
• 数量: 234 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• 出版地（国名コード）: GB
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Electronic books.; Conference proceedings.
• 件名標目: Semiconductors--Defects--Congresses.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 一次資料へのリンクURL: Freely available online; http://iopscience.iop.org/1742-6596/281/1
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-313
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011254262; http://id.ndl.go.jp/bib/000011254262
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215