2010 proceedings -- annual reliability and maintainability symposium : (RAMS 2010) : San Jose, California, USA : 25-28 January 2010 : international symposium on product quality & integrity : Jan 2010, San Jose, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424451029
• ISSN: 0149144X
• タイトル: 2010 proceedings -- annual reliability and maintainability symposium : (RAMS 2010) : San Jose, California, USA : 25-28 January 2010 : international symposium on product quality & integrity : Jan 2010, San Jose, CA.
• 著者標目: Reliability and Maintainability Symposium (2010 : San Jose, Calif.); International Symposium on Product Quality and Integrity (2010 : San Jose, Calif.)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2010.
• 出版年（W3CDTF）: 2010
• 数量: 554 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 28 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Reliability (Engineering)--Congresses.; Maintainability (Engineering)--Congresses.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; "RAMS marks its 56th year in San Jose, California." -- next page of page numbers.; IEEE cat no CFP10RAM-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-356
• 別の記録形式: Available online; http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=5443868
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011255348; http://id.ndl.go.jp/bib/000011255348
• OCLC番号: 698244701; https://www.worldcat.org/oclc/698244701
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215