2010 19th IEEE Asian test symposium : (ATS 2010) : Shanghai, China : 1-4 December 2010 : Dec 2010, Shanghai, China.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781424488414
• ISSN: 10817735
• タイトル: 2010 19th IEEE Asian test symposium : (ATS 2010) : Shanghai, China : 1-4 December 2010 : Dec 2010, Shanghai, China.
• 著者標目: Asian Test Symposium (19th : 2010 : Shanghai, China); Shanghai University.
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2010.
• 出版年（W3CDTF）: 2010
• 数量: xviii, 463 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Electronic digital computers--Circuits--Testing--Congresses.; Electronic circuits--Testing--Congresses.; Fault-tolerant computing--Congresses.
• LCC: TK7888.4
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; IEEE cat no CFP10067-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 一次資料へのリンクURL: http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=5689827
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-765
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000011270027; http://id.ndl.go.jp/bib/000011270027
• OCLC番号: 759445229; https://www.worldcat.org/oclc/759445229
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215