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目次
第1章 欠陥制御エピタキシャル成長技術による表面物質創製
1.1 Si表面上Ge歪エピタキシャル成長によるナノアイランド形成
1.1.1 はじめに
1.1.2 Si表面上GeのStranski-Krastanov(SK)成長
1.1.3 透過電子顕微鏡法によるhut clusterと格子欠陥の観察
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紙- 428.4-ヒヨ
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紙- 4284/ 17/4
- 0106330516
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紙- 428.4-5051-4
- 7100986574
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