Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors 5 : 24-25 August 2011 : San Diego, California, United States : Aug 2011, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780819487155 (pbk.)
• ISSN（シリーズ）: 0277786X
• タイトル: Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors 5 : 24-25 August 2011 : San Diego, California, United States : Aug 2011, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 8105
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 8105. 0277-786X
• 著者標目: Postek, Michael T.; Coleman, Victoria Anne, 1981-
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2011.
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 数量: 1 v. (various pagings)
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 28 cm.
• その他のタイトル: SPIE optics + photonics.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Nanostructured materials--Congresses.; Microfabrication--Congresses.; Nanotechnology--Congresses.
• LCC: TA418.9.N35; QC371
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-1706
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023221291; http://id.ndl.go.jp/bib/023221291
• LC control number: 2012360868; https://lccn.loc.gov/2012360868
• OCLC番号: 773740910; https://www.worldcat.org/oclc/773740910
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215