Atomic force microscopy based nanorobotics : modelling, simulation, setup building and experiments

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9783642203282; 3642203280
• ISSN（シリーズ）: 1610-7438
• タイトル: Atomic force microscopy based nanorobotics : modelling, simulation, setup building and experiments
• 著者・編者: Hui Xie ... [et al.].
• シリーズタイトル: Springer tracts in advanced robotics ; v. 71
• タイトル標目: Springer tracts in advanced robotics ; 71.
• 著者標目: Xie, Hui.
• 出版事項: Berlin : Springer
• 出版年月日等: c2011.
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 数量: xiv, 342 p.
• 形態の詳細: ill. (some col.)
• 大きさ: 24 cm.
• 出版地（国名コード）: DE
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Microrobots.; Atomic force microscopy.; Micrurgy.; Nanotechnology.; Robotics.; Kraftmikroskopie.; Mikromanipulator.; Nanotechnologie.
• LCC: TJ211.36
• DDC: 620.50150282
• NDLC: ND448
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• PBNO（出版者番号）: Best.-Nr.: 12841448
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND448-B13
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023427534; http://id.ndl.go.jp/bib/023427534
• LC control number: 2011934157; https://lccn.loc.gov/2011934157
• OCLC番号: 731918654; https://www.worldcat.org/oclc/731918654
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: Introduction1. Descriptions and Challenges of AFM Based Nanorobotic Systems2. Instrumentation Issues of an AFM Based Nanorobotic System...
• 要約等: The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, n...