Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics: 2011 : Grenoble, France 23-26 May 2011 : 2011 international conference on frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics (2011 FCMN) : May 2011, Grenoble, France.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780735409651; 9780735409736 (CD-ROM); 0735409730
• ISSN（シリーズ）: 0094243X
• タイトル: Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics: 2011 : Grenoble, France 23-26 May 2011 : 2011 international conference on frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics (2011 FCMN) : May 2011, Grenoble, France.
• シリーズタイトル: AIP Conference Proceedings ; 1395
• タイトル標目: AIP conference proceedings ; no. 1395.
• 著者標目: International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (8th : 2011 : Grenoble, France); Seiler, David G.
• 出版事項: Melville : American Institute of Physics
• 出版年月日等: 2011.
• 出版年（W3CDTF）: 2011
• 数量: xi, 377 p.
• 形態の詳細: ill. (some col.)
• 大きさ: 29 cm
• 付属資料: 1 CD-ROM (4 3/4 in.).
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Nanoelectronics--Congresses.; Semiconductors--Characterization--Congresses.; Semiconductors--Measurement--Congresses.
• LCC: TK7874.84; TK7874.76
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; "The 2011 FCMN was the eighth in a series that began in 1995 (...)" -- pref.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and indexes.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-3709
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023631549; http://id.ndl.go.jp/bib/023631549
• LC control number: 2011936790; https://lccn.loc.gov/2011936790
• OCLC番号: 764382816; https://www.worldcat.org/oclc/764382816
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215