2012 IEEE international conference on microelectronic test structures : (ICMTS 2012) : San Diego, California, USA : 19-22 March 2012 : Mar 2012, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781467310277
• ISSN: 10719032
• タイトル: 2012 IEEE international conference on microelectronic test structures : (ICMTS 2012) : San Diego, California, USA : 19-22 March 2012 : Mar 2012, San Diego, CA.
• 著者標目: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (2012 : San Diego, Calif.)
• 出版事項: Piscataway : IEEE
• 出版年月日等: c2012.
• 出版年（W3CDTF）: 2012
• 数量: 256 p.
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 27 cm.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 件名標目: Integrated circuits--Testing--Congresses.; Semiconductors--Testing--Congresses.; Electronic apparatus and appliances--Testing--Congresses.
• LCC: TK7874
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Program and papers.; IEEE cat no CFP12MTS-PRT.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 一次資料へのリンクURL: http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6182735
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-3881
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023748134; http://id.ndl.go.jp/bib/023748134
• OCLC番号: 793802889; https://www.worldcat.org/oclc/793802889
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215