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2012 28th annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : (SEMI-THERM 2012) : San Jose, California, USA : 18-22 March 2012 : 28th annual IEEE thermal measurement, modeling and management symposium : ST28 : SEMI-THERM 28 vendor workshop : Mar 2012, San Jose, CA.

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2012 28th annual IEEE semiconductor thermal measurement and management symposium : (SEMI-THERM 2012) : San Jose, California, USA : 18-22 March 2012 : 28th annual IEEE thermal measurement, modeling and management symposium : ST28 : SEMI-THERM 28 vendor workshop : Mar 2012, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号
M17-12-4129
国立国会図書館書誌ID
023796376
資料種別
図書
著者
IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (28th : 2012 : San Jose, Calif.)
出版者
IEEE
出版年
c2012.
資料形態
ページ数・大きさ等
367 p. ; 27 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Abstracts and papers."For the auxiliary program, there are: Six short courses, include topics (...)" -- welcome to IEEE SEMI-THERM 28.IEEE cat no CFP1...

形態の詳細:

ill.

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
9781467311106
ISSN
10652221
出版事項
出版年月日等
c2012.
出版年(W3CDTF)
2012
数量
367 p.
形態の詳細
ill.