Scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 24-26 April 2012 : Baltimore, Maryland, United States : scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences (conference 8378) : DSS meeting : 2012 SPIE defense security+sensing symposium : Apr 2012, Baltimore, MD.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9780819490568
• ISSN（シリーズ）: 0277786X
• タイトル: Scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences : 24-26 April 2012 : Baltimore, Maryland, United States : scanning microscopies 2012: advanced microscopy technologies for defense, homeland security, forensic, life, environmental, and industrial sciences (conference 8378) : DSS meeting : 2012 SPIE defense security+sensing symposium : Apr 2012, Baltimore, MD.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 8378
• タイトル標目: Proceedings of SPIE -- the International Society for Optical Engineering ; v. 8378. 0277-786X
• 著者標目: Postek, Michael T.
• 出版事項: Bellingham : SPIE
• 出版年月日等: c2012.
• 出版年（W3CDTF）: 2012
• 数量: 1 v. (various pagings)
• 形態の詳細: ill.
• 大きさ: 28 cm.
• その他のタイトル: SPIE defense, security + sensing.
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Electronic books.
• 件名標目: Scanning electron microscopes--Congresses.
• LCC: QH212.S3
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 一次資料へのリンクURL: http://link.spie.org/PSISDG/8378/1
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-12-3978
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 023806383; http://id.ndl.go.jp/bib/023806383
• OCLC番号: 795237147; https://www.worldcat.org/oclc/795237147
• 目録規則: 英米目録規則
• 整理区分コード: 215