Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps
• 著者・編者: Ming Hu [著]
• 著者標目: 胡, 明 フー, ミン
• 出版事項: [Ming Hu]
• 出版年月日等: [2012]
• 出版年（W3CDTF）: 2012
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: ナノスケールMOSFETにおけるホットキャリア効果 : 界面トラップの発生振舞い ナノスケール MOSFET ニ オケル ホット キャリア コウカ : カイメン トラップ ノ ハッセイ フルマイ
• 授与機関名: 島根大学
• 授与年月日: 平成24年9月24日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2012
• 報告番号: 甲第470号
• 学位: 博士(工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2012-R385
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024457746; http://id.ndl.go.jp/bib/024457746
• 整理区分コード: 213