2012 IEEE international integrated reliability workshop final report : (IIRW 2012) : South Lake Tahoe, California, USA : 14-18 October 2012 : Oct 2012, South Lake Tahoe, CA.

国立国会図書館請求記号: M17-13-3207
国立国会図書館書誌ID: 024633322

資料種別: 図書

著者: International Integrated Reliability Workshop (2012 : South Lake Tahoe, Calif.)

出版者: IEEE

出版年: c2012.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: ix, 239 p. ; 27 cm.

NDC: -

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資料に関する注記

一般注記：: Abstracts, papers and a presentation.IEEE cat no CFP12IRW-PRT.

形態の詳細：: ill.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9781467327497
ISSN: 19308841
タイトル: 2012 IEEE international integrated reliability workshop final report : (IIRW 2012) : South Lake Tahoe, California, USA : 14-18 October 2012 : Oct 2012, South Lake Tahoe, CA.
著者標目: International Integrated Reliability Workshop (2012 : South Lake Tahoe, Calif.)
出版事項: Piscataway : IEEE
出版年月日等: c2012.
出版年（W3CDTF）: 2012
数量: ix, 239 p.
形態の詳細: ill.
大きさ: 27 cm.
出版地（国名コード）: US
本文の言語コード: eng
件名標目: Semiconductors--Reliability--Congresses.
Integrated circuits--Wafer-scale integration--Reliability--Congresses.
Integrated circuits--Reliability--Congresses.
LCC: TK7874
NDLC: M17
対象利用者: 一般
一般注記: Abstracts, papers and a presentation.
IEEE cat no CFP12IRW-PRT.
書誌注記: Includes bibliographical references.
一次資料へのリンクURL: Full text available from IEEE/IET Electronic Library (IEL) Proceedings By Volume （Connect to full text.）
http://encompass.library.cornell.edu/cgi-bin/checkIP.cgi?access=gateway_standard%26url=http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6457539
IEEE Xplore
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6457539
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-13-3207
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 024633322
http://id.ndl.go.jp/bib/024633322
OCLC番号: 839274891
https://www.worldcat.org/oclc/839274891
目録規則: 英米目録規則
整理区分コード: 215