Development of a direct measurement method of magnetostriction constant of actual magnetic devices and wafers by applying inverse-magnetostriction effect

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Development of a direct measurement method of magnetostriction constant of actual magnetic devices and wafers by applying inverse-magnetostriction effect
• 著者・編者: Kazuhiko Okita [著]
• 著者標目: 沖田, 和彦 オキタ, カズヒコ
• 出版事項: [Kazuhiko Okita]
• 出版年月日等: [2013]
• 出版年（W3CDTF）: 2013
• 数量: 1冊
• 並列タイトル等: 逆磁歪効果を応用した磁気デバイスと磁性基板の磁歪定数直接測定法の開発 ギャクジワイ コウカ オ オウヨウシタ ジキ デバイス ト ジセイ キバン ノ ジワイ テイスウ チョクセツ ソクテイホウ ノ カイハツ
• 授与機関名: 東北大学
• 授与年月日: 平成25年3月27日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2013
• 報告番号: 甲第15179号
• 学位: 博士(工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: eng
• NDLC: UT51
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2013-H382
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 024934169; http://id.ndl.go.jp/bib/024934169
• 整理区分コード: 213