Materials and reliability handbook for semiconductor optical and electron devices

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781461443360 (acidfree paper); 1461443369 (acidfree paper)
• ISBN（エラーコード）: 9781461443377 (eBook); 1461443377 (eBook)
• タイトル: Materials and reliability handbook for semiconductor optical and electron devices
• 著者・編者: Osamu Ueda, Stephen J. Pearton, editors.
• 著者標目: 上田, 修, 1950- ウエダ, オサム, 1950- ( 001339523 )典拠; Pearton, S. J.
• 出版事項: New York : Springer (出版)
• 出版年月日等: [2013]
• 出版年（W3CDTF）: 2013
• 数量: xv, 616 pages
• 形態の詳細: illustrations (some colour)
• 大きさ: 24 cm
• 並列タイトル等: Semiconductor optical and electron devices
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Semiconductors--Materials.; Semiconductors--Reliability.; Optoelectronic devices--Materials.; Optoelectronic devices--Reliability.; Electronic apparatus and appliances--Materials.; Electronic apparatus and appliances--Reliability.; Optical materials.; Semiconducteurs--Matériaux.; Dispositifs électrooptiques--Fiabilité.; Composés semiconducteurs--Fiabilité.
• LCC: TK7871.85
• NDLC: ND371
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• コレクション（個別）: 日本関係外国語図書
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND371-B83
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025143551; http://id.ndl.go.jp/bib/025143551
• LC control number: 2012947361; https://lccn.loc.gov/2012947361
• OCLC番号: 793572160; https://www.worldcat.org/oclc/793572160
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: Materials issues and reliability of optical devices: Reliability testing of semiconductor optical devices / Mitsuo Fukuda. Failure analysis of semicon...