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International conference on defects in semiconductors 2013 : proceedings of the 27th international conference on defects in semiconductors, ICDS-2013 : Bologna, Italy : 21-26 July 2013 : ICDS conferences : Jul 2013, Bologna, Italy. (AIP Conference Proceedings ; 1583)

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International conference on defects in semiconductors 2013 : proceedings of the 27th international conference on defects in semiconductors, ICDS-2013 : Bologna, Italy : 21-26 July 2013 : ICDS conferences : Jul 2013, Bologna, Italy.

(AIP Conference Proceedings ; 1583)

国立国会図書館請求記号
M17-14-2605
国立国会図書館書誌ID
025429217
資料種別
図書
著者
International Conference on Defects in Semiconductors (27th : 2013 : Bologna, Italy)ほか
出版者
American Institute of Phsyics
出版年
2014.
資料形態
ページ数・大きさ等
375 pages ; 27 cm.
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Papers.Described as "... (ICDS-2013) was held in Bologna, Italy, July 22-26, 2013."--Preface."The conferences in this series, ... are held every 2 yea...

形態の詳細:

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
9781632660459 (Print on Demand)
9780735412156 (Original Print)
0735412154 (print)
ISSN(シリーズ)
0094-243X
シリーズタイトル
出版年月日等
2014.
2014
出版年(W3CDTF)
2014