2013 IEEE international integrated reliability workshop : (IIRW 2013) : South Lake Tahoe, California, USA : 13-17 October 2013 : Oct 2013, South Lake Tahoe, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479903498
• ISSN: 1930-8841
• タイトル: 2013 IEEE international integrated reliability workshop : (IIRW 2013) : South Lake Tahoe, California, USA : 13-17 October 2013 : Oct 2013, South Lake Tahoe, CA.
• 著者標目: International Integrated Reliability Workshop (2013 : South Lake Tahoe, Calif.)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2013]; 著作権日付 : ©2013
• 出版年（W3CDTF）: 2013
• 数量: ix, 216 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 27 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Semiconductors--Reliability--Congresses.; Integrated circuits--Wafer-scale integration--Reliability--Congresses.; Integrated circuits--Reliability--Congresses.; Integrated circuits--Reliability.; Integrated circuits--Wafer-scale integration--Reliability.; Semiconductors--Reliability.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers, abstracts and presentations.; IEEE catalog number CFP13IRW-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-15-1043
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025606868; http://id.ndl.go.jp/bib/025606868
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215