Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors VIII : 20 August 2014 : San Diego, California, United States : Aug 2014, San Diego, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781628412000; 1628412003
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors VIII : 20 August 2014 : San Diego, California, United States : Aug 2014, San Diego, CA.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 9173
• 著者標目: Postek, Michael T.; Orji, Ndubuisi George.
• 出版事項: Bellingham, Washington, USA : SPIE (出版)
• 出版年月日等: [2014]
• 出版年（W3CDTF）: 2014
• 数量: 1 volume (various pagings)
• 形態の詳細: illustrations (black and white)
• 大きさ: 28 cm.
• 並列タイトル等: Instrumentation, metrology, and standards for nanomanufacturing, optics, and semiconductors 8 : 20 August 2014 : San Diego, California, United States; SPIE. optics + photonics
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Nanostructured materials--Congresses.; Microfabrication--Congresses.; Nanotechnology--Congresses.; Instrumentation; Metrology; Nanomanufacturing; Optics; Semiconductors
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-15-47
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 025940859; http://id.ndl.go.jp/bib/025940859
• OCLC番号: 898314177; https://www.worldcat.org/oclc/898314177
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215