2014 IEEE 32nd VLSI test symposium : (VTS 2014) : Napa, California, USA : 13-17 April 2014 : TTTC-sponsored technical meetings : Apr 2014, Napa, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479926121; 1479926124
• タイトル: 2014 IEEE 32nd VLSI test symposium : (VTS 2014) : Napa, California, USA : 13-17 April 2014 : TTTC-sponsored technical meetings : Apr 2014, Napa, CA.
• 著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (2014 : Napa, CA)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2014]
• 出版年（W3CDTF）: 2014
• 数量: 293 pages
• 大きさ: 27 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Integrated circuits--Very large scale integration--Testing--Congresses.; Integrated circuits--Very large scale integration--Testing.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers and abstracts.; "Welcome to VTS 2014, the thirty second in a series of annual symposia ..."--Foreword.; Described as "The core of VTS 2014, the three-day technical program, responds to ... In addition to the three-day paper sessions, VTS 2014 features several special sessions including ... and an embedded tutorial."--Foreword.; IEEE catalog number CFP14029-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-15-2218
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026355457; http://id.ndl.go.jp/bib/026355457
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215