2015 international conference on microelectronic test structures : (ICMTS 2015) : Tempe, Arizona, USA : 23-26 March 2015 : 2015 IEEE international conference on microelectronic test structures : Mar 2015, Tempe, AZ.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479983056
• タイトル: 2015 international conference on microelectronic test structures : (ICMTS 2015) : Tempe, Arizona, USA : 23-26 March 2015 : 2015 IEEE international conference on microelectronic test structures : Mar 2015, Tempe, AZ.
• 著者標目: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (2015 : Tempe, Ariz.)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2015]; 著作権日付 : ©2015
• 出版年（W3CDTF）: 2015
• 数量: vii, 239 pages
• 大きさ: 27 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Integrated circuits--Testing--Congresses.; Semiconductors--Testing--Congresses.; Electronic apparatus and appliances--Testing--Congresses.; Electronic apparatus and appliances--Testing.; Integrated circuits--Testing.; Semiconductors--Testing.
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; IEEE catalog number CFP15MTS-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-15-3236
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 026721134; http://id.ndl.go.jp/bib/026721134
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215