2014 IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI and nanotechnology systems : (DFT 2014) : Amsterdam, Netherlands : 1-3 October 2014 : Oct 2014, Amsterdam, the Netherlands.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479961566 (print)
• タイトル: 2014 IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI and nanotechnology systems : (DFT 2014) : Amsterdam, Netherlands : 1-3 October 2014 : Oct 2014, Amsterdam, the Netherlands.
• 著者標目: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (2014 : Amsterdam, the Netherlands)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2014]; 著作権日付 : ©2014
• 出版年（W3CDTF）: 2014
• 数量: xvi, 304 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Integrated circuits--Very large scale integration--Congresses.; Nanotechnology--Congresses.; Integrated circuits--Fault tolerance--Congresses.; Integrated circuits--Very large scale integration.; Nanotechnology.
• LCC: TK7874.75
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Abstracts and papers.; "... we welcome you to twenty-seventh edition of the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2014) ..."--Foreword.; IEEE catalog number CFP14078-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-16-1280
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 027262679; http://id.ndl.go.jp/bib/027262679
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215