2015 IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI and nanotechnology systems : (DFTS 2015) : Amherst, Massachusetts, USA : 12-14 October 2015 : DFT 2015 : Oct 2015, Amherst, MA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781479986316
• ISSN: 1550-5774
• タイトル: 2015 IEEE international symposium on defect and fault tolerance in VLSI and nanotechnology systems : (DFTS 2015) : Amherst, Massachusetts, USA : 12-14 October 2015 : DFT 2015 : Oct 2015, Amherst, MA.
• 著者標目: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (2015 : Amherst, Mass.)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2015]; 著作権日付 : ©2015
• 出版年（W3CDTF）: 2015
• 数量: xiv, 236 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Integrated circuits--Very large scale integration--Congresses.; Nanotechnology--Congresses.; Integrated circuits--Fault tolerance--Congresses.; Integrated circuits--Fault tolerance; Integrated circuits--Very large scale integration.; Nanotechnology.
• LCC: TK7874.75
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Abstracts, program and papers.; "... we welcome you to the twenty-eighth edition of the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2015) ..."--Welcome message.; IEEE catalog number CFP15078-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-17-636
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 027596740; http://id.ndl.go.jp/bib/027596740
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215