Metrology and standardization for nanotechnology : protocols and industrial innovations

• 資料種別: 図書
• ISBN: 3527340394 (hbk); 9783527340392 (hbk)
• タイトル: Metrology and standardization for nanotechnology : protocols and industrial innovations
• 著者・編者: edited by Elisabeth Mansfield, Debra L. Kaiser, Daisuke Fujita, and Marcel Van de Voorde.
• シリーズタイトル: Nanotechnology innovation & applications
• タイトル標目: Nanotechnology innovation & applications.
• 著者標目: Mansfield, Elisabeth.
• 出版事項: Weinheim, Germany : Wiley-Vch Verlag GmbH & Co. KGaA (出版)
• 出版年月日等: [2017]; 著作権日付 : ©2017
• 出版年（W3CDTF）: 2017
• 数量: xxxii, 594 pages
• 形態の詳細: illustrations, charts (some color)
• 大きさ: 25 cm.
• 出版地（国名コード）: DE
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Nanotechnology--Research.; Nanostructured materials--Research.
• LCC: T174.7
• NDLC: M21
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• コレクション（個別）: 日本関係外国語図書
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M21-B99
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028025078; http://id.ndl.go.jp/bib/028025078
• OCLC番号: 956395716; https://www.worldcat.org/oclc/956395716
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: Nanotechnology basics: definitions, synthesis, and propertiesMetrology for engineered nanomaterialsNanotechnology standards...
• 要約等: This book gives an overview of the current status of nanotechnology including the importance of metrology and characterization at the nanoscale, inter...