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2016 32nd thermal measurement, modeling & management symposium : (SEMI-THERM 2016) : San Jose, California, USA : 14-17 March 2016 : SEMI-THERM short courses : SEMI-THERM 32 : 32nd annual conference on thermal design, management, measurement and characterization of semiconductor components and systems : Mar 2016, San Jose, CA.

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2016 32nd thermal measurement, modeling & management symposium : (SEMI-THERM 2016) : San Jose, California, USA : 14-17 March 2016 : SEMI-THERM short courses : SEMI-THERM 32 : 32nd annual conference on thermal design, management, measurement and characterization of semiconductor components and systems : Mar 2016, San Jose, CA.

国立国会図書館請求記号
M17-17-2413
国立国会図書館書誌ID
028048763
資料種別
図書
著者
IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (32nd : 2016 : San Jose, Calif.)
出版者
IEEE
出版年
[2016]
資料形態
ページ数・大きさ等
iv, 223 pages ; 28 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Abstracts and papers."SEMI-THERM 32 has a rich program comprised of: 6 pre-conference short courses ... 4 how to courses ... 12 vendor workshops, 2day...

形態の詳細:

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
9781509023370 (print)
ISSN
1065-2221
出版年月日等
[2016]
著作権日付 : ©2016
出版年(W3CDTF)
2016
数量
iv, 223 pages
形態の詳細
illustrations