2016 IEEE 34th VLSI test symposium (VTS 2016) : Las Vegas, Nevada, USA : 25-27 April 2016 : intl. IEEE VLSI test symposium 2016 : Apr 2016, Las Vegas, NV.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781467384551 (Print-On-Demand)
• ISSN: 1093-0167
• タイトル: 2016 IEEE 34th VLSI test symposium (VTS 2016) : Las Vegas, Nevada, USA : 25-27 April 2016 : intl. IEEE VLSI test symposium 2016 : Apr 2016, Las Vegas, NV.
• 著者標目: IEEE VLSI Test Symposium (34th : 2016 : Las Vegas, Nev.)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2016]; 著作権日付 : ©2016
• 出版年（W3CDTF）: 2016
• 数量: 273 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Integrated circuits--Very large scale integration--Testing--Congresses.; Integrated Circuits--Very Large Scale Integration.; Integrated circuits--Very large scale integration--Testing.
• LCC: TK7874.75
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 対象利用者に関する注記: Scholarly & Professional
• 一般注記: Abstracts and papers.; "Welcome to VTS 2016, the thirty-fourth in a series of annual symposia ..."--Foreword.; "... VTS 2016 features several special sessions including ... and one embedded tutorial."--Foreword.; "Prior to the core of VTS 2016, four half-day tutorials will also be offered ..."--Foreword.; IEEE catalog number CFP16029-POD.
• 資料の内容に関する注記: The IEEE VLSI Test Symposium (VTS) explores emerging trends and novel concepts in testing, debug, and repair of microelectronic circuits and systems.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-17-2424
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028049329; http://id.ndl.go.jp/bib/028049329
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215