2016 IEEE international test conference (ITC 2016) : Fort Worth, Texas, USA : 15-17 November 2016 : 47th international test conference : Nov 2016, Fort Worth, TX.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781467387743 (Print-On-Demand)
• ISSN: 1089-3539
• タイトル: 2016 IEEE international test conference (ITC 2016) : Fort Worth, Texas, USA : 15-17 November 2016 : 47th international test conference : Nov 2016, Fort Worth, TX.
• 著者標目: International Test Conference (47th : 2016 : Fort Worth, Tex.)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2016]; 著作権日付 : ©2016
• 出版年（W3CDTF）: 2016
• 数量: 490 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Integrated circuits--Testing--Congresses.; Electronic digital computers--Circuits--Testing--Congresses.; Computer software--Testing--Congresses.; Semiconductors--Testing--Congresses.; Radio frequency--Congresses.; Telecommunication--Congresses.; Computer software--Testing.; Electronic digital computers--Circuits--Testing.; Integrated circuits--Testing.; Radio frequency.; Semiconductors--Testing.; Telecommunication.
• LCC: TK7874
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Abstracts and selected papers.; IEEE catalog number CFP16ITC-POD.
• 書誌注記: Includes bibliographical references.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-18-1579
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028452672; http://id.ndl.go.jp/bib/028452672
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215