2016 IEEE 25th Asian test symposium (ATS 2016) : Hiroshima, Japan : 21-24 November 2016 : IEEE annual event : Nov 2016, Hiroshima, Japan.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781509038107 (print)
• ISSN: 1081-7735
• タイトル: 2016 IEEE 25th Asian test symposium (ATS 2016) : Hiroshima, Japan : 21-24 November 2016 : IEEE annual event : Nov 2016, Hiroshima, Japan.
• 著者標目: Asian Test Symposium (25th : 2016 : Hiroshima-shi, Japan)
• 出版事項: Piscataway, NJ : IEEE (出版)
• 出版年月日等: [2016]; 著作権日付 : ©2016
• 出版年（W3CDTF）: 2016
• 数量: xxxii, 318 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Electronic digital computers--Circuits--Testing--Congresses.; Electronic circuits--Testing--Congresses.; Fault-tolerant computing--Congresses.; Electronic circuits--Testing.; Electronic digital computers--Circuits--Testing.; Fault-tolerant computing.
• LCC: TK7888.4
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Abstracts and papers.; "In addition to the technical and industry sessions, the ATS program includes two plenary sessions, ... and two half-day tutorials."--Foreword.; IEEE catalog number CFP16067-POD.
• 資料の内容に関する注記: Annotation
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-18-1580
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028452699; http://id.ndl.go.jp/bib/028452699
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215