Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 : SIMS-4 : Nov 1983, Osaka, Japan.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9783642822582 (Softcover)
• タイトル: Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 : SIMS-4 : Nov 1983, Osaka, Japan.
• シリーズタイトル: Springer Series in Chemical Physics ; 36
• タイトル標目: Springer series in chemical physics ; 36.
• 著者標目: Benninghoven, A.; Okano, J.; Shimizu, R.; Werner, H. W.
• 出版事項: Berlin : Springer; Heidelberg : Springer
• 出版年月日等: [1984]
• 出版年（W3CDTF）: 1984
• 数量: xv, 503 pages
• 大きさ: 24 cm.
• 並列タイトル等: Secondary ion mass spectrometry : SIMS 4 : proceedings of the 4th international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
• 出版地（国名コード）: DE
• 本文の言語コード: eng
• 言語注記: English.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Chemistry.; Physical organic chemistry.
• LCC: QD450-882
• DDC: 541
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers and an abstract.; "Softcover reprint of the hardcover 1st edition 1984"--Title page verso.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-19-381
• 関連情報（DOI）: 10.1007/978-3-642-82256-8
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028545383; http://id.ndl.go.jp/bib/028545383
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215

• 要約等: This volume contains full proceedings of the Fourth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS-IV), held in the Minoo-Kanko Hot...