ISTFA 2017 : conference proceedings from the 43rd international symposium for testing and failure analysis : November 5-9, 2017 : Pasadena Convention Center : Pasadena, California, USA : Nov 2017, Pasadena, CA.

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781627081504; 162708150X
• ISBN（エラーコード）: 978162708150X
• タイトル: ISTFA 2017 : conference proceedings from the 43rd international symposium for testing and failure analysis : November 5-9, 2017 : Pasadena Convention Center : Pasadena, California, USA : Nov 2017, Pasadena, CA.
• 著者標目: International Symposium for Testing and Failure Analysis (43rd : 2017 : Pasadena, Calif.); Electronic Device Failure Analysis Society.; ASM International.
• 出版事項: Materials Park, Ohio : ASM International
• 出版年月日等: [2017]
• 出版年（W3CDTF）: 2017
• 数量: xix, 645 pages
• 形態の詳細: illustrations, charts
• 大きさ: 28 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Conference papers and proceedings.
• 表現種別: txt : text
• 機器種別: n : unmediated
• キャリア種別: nc : volume
• 件名標目: Electronics--Materials--Testing--Congresses.; Electronic apparatus and appliances--Testing--Congresses.; Electronic apparatus and appliances--Testing.; Electronics--Materials--Testing.
• LCC: TK7871.85
• DDC: 621.381
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-19-1235
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 028989509; http://id.ndl.go.jp/bib/028989509
• OCLC番号: 1052613283; https://www.worldcat.org/oclc/1052613283
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215