Optical measurement systems for industrial inspection XI : 24-27 June 2019 : Munich, Germany : biannual Munich SPIE symposium "optical metrology" : laser world of photonics congress : Munich conference : Jun 2019, Munich, Germany.

• 資料種別: 図書
• ISBN（セット）: 9781510627918 (set)
• ISSN（シリーズ）: 0277-786X
• タイトル: Optical measurement systems for industrial inspection XI : 24-27 June 2019 : Munich, Germany : biannual Munich SPIE symposium "optical metrology" : laser world of photonics congress : Munich conference : Jun 2019, Munich, Germany.
• シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 11056
• 著者標目: European Optical Society (EOS); Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik (WLT)
• 出版事項: Bellingham, Washington, USA : SPIE (出版)
• 出版年月日等: [2019]
• 出版年（W3CDTF）: 2019
• 数量: 2 volumes
• 大きさ: 28 cm.
• 並列タイトル等: Optical measurement systems for industrial inspection 11 : 24-27 June 2019 : Munich, Germany; Optical measurement systems for industrial inspection XI : at SPIE optical metrology : 24-27 June 2019 : Munich, Germany
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• NDLC: M17
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Papers.; "This year the conference takes place for the eleventh time, ..."--Part 1, introduction.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: M17-20-1083
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030095632; http://id.ndl.go.jp/bib/030095632
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 215