世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 = Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual : LSIデータベース. 2008

• 資料種別: 図書
• ISBN: 978-4-907847-22-7
• タイトル: 世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 : LSIデータベース
• タイトルよみ: セカイ ハンドウタイ セイゾウ ソウチ ・ シケン / ケンサ ソウチ シジョウ ネンカン : LSI データベース
• 巻次・部編番号: 2008
• 出版事項: 東京 : グローバルネット
• 出版年月日等: 2008.3
• 出版年（W3CDTF）: 2008
• 数量: 910p
• 大きさ: 28cm
• 並列タイトル等: Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual; Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 半導体製造装置製造業 ハンドウタイ セイゾウ ソウチ セイゾウギョウ ( 001237270 )典拠
• NDC10版: 549.8093 : 電子工学
• NDLC: DL475
• 対象利用者: 一般
• 入手条件・定価: 48000円
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: DL475-M65
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030115666; http://id.ndl.go.jp/bib/030115666
• 全国書誌番号: 23318042
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 111