世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 : LSIデータベース 2008

世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 = Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual : LSIデータベース. 2008

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Material Type: 図書
ISBN: 978-4-907847-22-7
Title: 世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 : LSIデータベース
Title Transcription: セカイハンドウタイセイゾウソウチ・シケン / ケンサソウチシジョウネンカン : LSI データベース
Volume: 2008
Publication, Distribution, etc.: 東京 : グローバルネット
Publication Date: 2008.3
Publication Date (W3CDTF): 2008
Extent: 910p
Size: 28cm
Alternative Title: Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 半導体製造装置製造業ハンドウタイセイゾウソウチセイゾウギョウ ( 001237270 )Authorities
NDC 10th ed.: 549.8093 : Electronic engineering
NDLC: DL475
Target Audience: 一般
Price: 48000円
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: DL475-M65
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 030115666
http://id.ndl.go.jp/bib/030115666
National Bibliography No. (JPNO): 23318042
Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111