半導体デバイスの不良・故障解析技術

• 資料種別: 図書
• ISBN: 978-4-8171-9685-9
• タイトル: 半導体デバイスの不良・故障解析技術
• タイトルよみ: ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
• 著者・編者: 二川清 編著; 上田修, 山本秀和 著
• シリーズタイトル: 信頼性技術叢書
• シリーズ著者・編者: 信頼性技術叢書編集委員会 監修
• 著者標目: 二川, 清, 1949- ニカワ, キヨシ, 1949- ( 00253818 )典拠; 上田, 修, 1950- ウエダ, オサム, 1950- ( 001339523 )典拠; 山本, 秀和 ヤマモト, ヒデカズ ( 001099107 )典拠
• 出版事項: 東京 : 日科技連出版社
• 出版年月日等: 2019.12
• 出版年（W3CDTF）: 2019
• 数量: 218p
• 大きさ: 21cm
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• 件名標目: 半導体--品質管理 ハンドウタイ ヒンシツカンリ ( 00908759 )典拠; 信頼性 (工学) シンライセイ (コウガク) ( 00571098 )典拠
• NDC10版: 549.8 : 電子工学
• NDLC: ND371
• 対象利用者: 一般
• 書誌注記: 索引あり
• 入手条件・定価: 3300円
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND371-M44
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030132625; http://id.ndl.go.jp/bib/030132625
• 全国書誌番号: 23323161
• トーハンMARC番号: 34014829
• 目録規則: 日本目録規則1987年版改訂版
• 整理区分コード: 111

• 要約等: 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を網羅。それぞれの分野を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択問題を数題掲載している。（提供元: 出版情報登録センター（JPRO））
• 著者紹介: 二川 清 二川清 1949年大阪市生まれ。 大阪大学大学院基礎工学研究科 物理系修士課程修了。工学博士。 NEC、NECエレクトロニクスにて半導体の信頼性・故障解析技術の実務と研究開発に従事。 大阪大学特任教授、金沢工業大学客員教授、日本信頼性学会副会長などを歴任。現在、芝浦工業大学非常勤講師。上田...

目次

第1章　半導体デバイスの不良・故障解析技術の概要

第2章　シリコン集積回路（LSI）の故障解析技術

第3章　パワーデバイスの不良・故障解析技術

第4章　化合物半導体発光デバイスの不良・故障解析技術