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目次
第1章 半導体デバイスの不良・故障解析技術の概要
第2章 シリコン集積回路(LSI)の故障解析技術
第3章 パワーデバイスの不良・故障解析技術
第4章 化合物半導体発光デバイスの不良・故障解析技術
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札幌市中央図書館
紙- 549.8/ニ/
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紙- 549.8/ニカ/
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紙- 5498/ 199/
- 1102555476
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紙- 549.8-5354-2019
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紙- 549.8-398
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- 資料種別
- 図書
- ISBN
- 978-4-8171-9685-9
- タイトルよみ
- ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
- 著者・編者
- 二川清 編著上田修, 山本秀和 著
- シリーズタイトル
- シリーズ著者・編者
- 信頼性技術叢書編集委員会 監修
- 著者標目
- 二川, 清, 1949- ニカワ, キヨシ, 1949- ( 00253818 )典拠上田, 修, 1950- ウエダ, オサム, 1950- ( 001339523 )典拠
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2019.12