半導体デバイスの不良・故障解析技術

• Material Type: 図書
• ISBN: 978-4-8171-9685-9
• Title: 半導体デバイスの不良・故障解析技術
• Title Transcription: ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
• Author/Editor: 二川清 編著; 上田修, 山本秀和 著
• Series Title: 信頼性技術叢書
• Author/Editor (Series Title): 信頼性技術叢書編集委員会 監修
• Author Heading: 二川, 清, 1949- ニカワ, キヨシ, 1949- ( 00253818 )Authorities; 上田, 修, 1950- ウエダ, オサム, 1950- ( 001339523 )Authorities; 山本, 秀和 ヤマモト, ヒデカズ ( 001099107 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日科技連出版社
• Publication Date: 2019.12
• Publication Date (W3CDTF): 2019
• Extent: 218p
• Size: 21cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: 半導体--品質管理 ハンドウタイ ヒンシツカンリ ( 00908759 )Authorities; 信頼性 (工学) シンライセイ (コウガク) ( 00571098 )Authorities
• NDC 10th ed.: 549.8 : Electronic engineering
• NDLC: ND371
• Target Audience: 一般
• Note (Bibliography): 索引あり
• Price: 3300円
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: ND371-M44
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 030132625; http://id.ndl.go.jp/bib/030132625
• National Bibliography No. (JPNO): 23323161
• TOHAN MARC No.: 34014829
• Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Summary, etc.: 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を網羅。それぞれの分野を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択問題を数題掲載している。(Provided by: 出版情報登録センター（JPRO）)
• Author introduction: 二川 清 二川清 1949年大阪市生まれ。 大阪大学大学院基礎工学研究科 物理系修士課程修了。工学博士。 NEC、NECエレクトロニクスにて半導体の信頼性・故障解析技術の実務と研究開発に従事。 大阪大学特任教授、金沢工業大学客員教授、日本信頼性学会副会長などを歴任。現在、芝浦工業大学非常勤講師。上田...

Table of Contents

第1章　半導体デバイスの不良・故障解析技術の概要

第2章　シリコン集積回路（LSI）の故障解析技術

第3章　パワーデバイスの不良・故障解析技術

第4章　化合物半導体発光デバイスの不良・故障解析技術