半導体デバイスの不良・故障解析技術 (信頼性技術叢書)
半導体デバイスの不良・故障解析技術
(信頼性技術叢書)
- Call No. (NDL)
- ND371-M44
- Bibliographic ID of National Diet Library
- 030132625
Detailed bibliographic record
Summary, etc.：
- 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を網羅。それぞれの分野を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択問題を数題掲載している。(Provided by: 出版情報登録センター（JPRO）)
Author introduction：
- 二川 清 二川清 1949年大阪市生まれ。 大阪大学大学院基礎工学研究科 物理系修士課程修了。工学博士。 NEC、NECエレクトロニクスにて半導体の信頼性・故障解析技術の実務と研究開発に従事。 大阪大学特任教授、金沢工業大学客員教授、日本信頼性学会副会長などを歴任。現在、芝浦工業大学非常勤講師。上田...
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Table of Contents
第1章 半導体デバイスの不良・故障解析技術の概要
第2章 シリコン集積回路（LSI）の故障解析技術
第3章 パワーデバイスの不良・故障解析技術
第4章 化合物半導体発光デバイスの不良・故障解析技術
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神奈川県立川崎図書館
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- Book Registration Number：
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- Material Type
- 図書
- ISBN
- 978-4-8171-9685-9
- Title
- Title Transcription
- ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
- Author/Editor
- 二川清 編著上田修, 山本秀和 著
- Series Title
- Author/Editor (Series Title)
- 信頼性技術叢書編集委員会 監修
- Author Heading
- 二川, 清, 1949- ニカワ, キヨシ, 1949- ( 00253818 )Authorities上田, 修, 1950- ウエダ, オサム, 1950- ( 001339523 )Authorities山本, 秀和 ヤマモト, ヒデカズ ( 001099107 )Authorities
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2019.12