ASM handbook. Volume 10, Materials characterization

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781627082112; 1627082115
• タイトル: ASM handbook.
• 巻次・部編番号: Volume 10
• 部編名: Materials characterization
• 著者・編者: prepared under the direction of the ASM International Handbook Committee; division editors, Thomas J. Bruno, Ryan Deacon, Jeffrey A. Jansen, Neal Magdefrau, Erik Mueller, George F. Vander Voort, Dehua Yang.
• 版: 2019 edition.
• 著者標目: Bruno, Thomas J.; ASM International. Handbook Committee.
• 出版事項: Materials Park, Ohio : ASM International (出版)
• 出版年月日等: [2019]; 著作権日付 : ©2019
• 出版年（W3CDTF）: 2019
• 数量: xii, 807 pages
• 形態の詳細: illustrations
• 大きさ: 29 cm
• 並列タイトル等: Materials characterization
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Materials--Analysis--Handbooks, manuals, etc.
• LCC: TA459
• NDLC: PD2; PD23
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: Revised and updated work. Previously published in 1986.
• 書誌注記: Includes bibliographical references and index.
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: PD2-D1
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 030302235; http://id.ndl.go.jp/bib/030302235
• OCLC番号: 1119619535; https://www.worldcat.org/oclc/1119619535
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: Introduction to materials analysis methodsSpectroscopyMass and ion spectrometry...

目次

Contents

Introduction to Materials Analysis Methods

Introduction to Materials Characterization

Introduction to Characterization of Metals

Semiconductor Characterization