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図書
世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 2017 (LSI database)
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世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 = Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual. 2017
(LSI database)
国立国会図書館請求記号
YU9-M379
国立国会図書館書誌ID
030464474
資料種別
図書
著者
-
出版者
グローバルネット
出版年
2017.3
資料形態
紙
ページ数・大きさ等
985 p ; 28 cm
NDC
549.8093
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資料に関する注記
付属資料:
DVD-ROM 1枚 (12 cm)
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書誌情報
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紙
資料種別
図書
ISBN
978-4-907847-67-8
タイトル
世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑
タイトルよみ
セカイ ハンドウタイ セイゾウ ソウチ ・ シケン / ケンサ ソウチ シジョウ ネンカン
巻次・部編番号
2017
シリーズタイトル
LSI database
出版事項
東京 : グローバルネット (出版)
出版年月日等
2017.3
出版年(W3CDTF)
2017
数量
985 p
大きさ
28 cm
付属資料
DVD-ROM 1枚 (12 cm)
並列タイトル等
Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual Semiconductor equipment test / inspection worldwide annual
Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
出版地(国名コード)
JP
本文の言語コード
jpn
表現種別
テキスト
不明
機器種別
機器不用
コンピュータ
キャリア種別
冊子
コンピュータ・ディスク
件名標目
半導体製造装置製造業
ハンドウタイ セイゾウ ソウチ セイゾウギョウ (
001237270
)
典拠
NDC10版
549.8093 : 電子工学
NDLC
YU9
DL475
対象利用者
一般
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
YU9-M379
連携機関・データベース
国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID(NDLBibID)
030464474
http://id.ndl.go.jp/bib/030464474
全国書誌番号
23835648
目録規則
日本目録規則2018年版
整理区分コード
111
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