図書

Means and methods for measurement and monitoring : supplement book to advanced micro-device engineering VIII : selected, peer reviewed papers from the 8th international conference on advanced micro device engineering (AMDE 2016), December 9, 2016, Kiryu, Japan : Dec 2016, Kiryu, Japan. (Applied Mechanics and Materials ; 888)

図書を表すアイコン

Means and methods for measurement and monitoring : supplement book to advanced micro-device engineering VIII : selected, peer reviewed papers from the 8th international conference on advanced micro device engineering (AMDE 2016), December 9, 2016, Kiryu, Japan : Dec 2016, Kiryu, Japan.

(Applied Mechanics and Materials ; 888)

国立国会図書館請求記号
M17-21-789
国立国会図書館書誌ID
031302270
資料種別
図書
著者
Hanaizumi, Osamu.ほか
出版者
Trans Tech Publications Ltd
出版年
[2019]
資料形態
ページ数・大きさ等
viii, 95 pages ; 24 cm.
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Selected papers.

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN
9783035715538
303571553X
9783035735536 (electronic book)
3035735530 (electronic book)
ISSN(シリーズ)
1660-9336
出版年月日等
[2019]
出版年(W3CDTF)
2019