Microelectronics failure analysis : desk reference

• 資料種別: 図書
• ISBN: 9781627082457 (print); 162708245X (print); 9781627082464 (pdf); 9781627082471 (electronic)
• タイトル: Microelectronics failure analysis : desk reference
• 著者・編者: edited by Tejinder Gandhi
• 版: Seventh edition
• 著者標目: Gandhi, Tejinder
• 出版事項: Materials Park, OH : ASM International (出版)
• 出版年月日等: [2019]; 著作権日付 : ©2019
• 出版年（W3CDTF）: 2019
• 数量: xi, 705 pages
• 形態の詳細: illustrations (some color)
• 大きさ: 29 cm
• 出版地（国名コード）: US
• 本文の言語コード: eng
• ジャンル・形式用語: Handbooks and manuals.
• 表現種別: text
• 機器種別: unmediated
• キャリア種別: volume
• 件名標目: Electronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc; Microelectronics--Materials--Testing--Handbooks, manuals, etc; Microelectronics--Materials--Defects--Handbooks, manuals, etc; Electronic apparatus and appliances--Testing--Handbooks, manuals, etc; Semiconductors--Defects--Handbooks, manuals, etc; Electronic apparatus and appliances--Testing.; Electronics--Materials--Testing.; Microelectronics--Materials--Defects.; Microelectronics--Materials--Testing.; Semiconductors--Defects.
• LCC: TK7871
• DDC: 621.381
• NDLC: ND371
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: "An ASM materials solutions publication"; "EDFAS, Electronic Device Failure Analysis Society, ASM International"
• 書誌注記: Includes bibliographical references and indexes
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: ND371-D19
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 031436669; http://id.ndl.go.jp/bib/031436669
• LC control number: 2019951107; https://lccn.loc.gov/2019951107
• OCLC番号: 1126332918; https://www.worldcat.org/oclc/1126332918
• 目録規則: RDA
• 整理区分コード: 211

• 内容細目: section 1. Failure analysis process and management. Overview of wafer-level electrical failure analysis process for accelerated yield engineering / S....