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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

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テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

国立国会図書館請求記号
FB35-M96
国立国会図書館書誌ID
032396037
資料種別
図書
著者
光永悠彦 編著ほか
出版者
ナカニシヤ出版
出版年
2022.9
資料形態
ページ数・大きさ等
239p ; 26cm
NDC
376.87
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資料詳細

要約等:

大学受験における共通テストを年複数回行うような制度はどうすれば実現可能なのか。これからの大学入試制度を考えるための必携書(提供元: 出版情報登録センター(JPRO))

著者紹介:

光永 悠彦 光永悠彦(みつなが はるひこ) 1979年北海道生まれ。人事院人材局試験専門官室,島根大学教育・学生支援機構 講師を経て,名古屋大学大学院教育発達科学研究科准教授。東京工業大学大学院社会理工学研究科人間行動システム専攻博士課程修了,博士(学術)。 専門は心理統計学,テスト理論,多変量解析...

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目次

  • はじめに

  • 第1部 共通入試のあるべき姿:これからの入試の仕組み,教育の仕組み

  • 第1章 メリトクラシーと日本の入試

  • 1-1 みんなが受験する入試

  • 1-2 学歴社会が普及し,変質しやすい日本

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書誌情報

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資料種別
図書
ISBN
978-4-7795-1683-2
タイトルよみ
テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
著者・編者
光永悠彦 編著
西田亜希子 著
著者標目
著者 : 光永, 悠彦, 1979- ミツナガ, ハルヒコ, 1979- ( 001258249 )典拠
著者 : 西田, 亜希子, 1976- ニシダ, アキコ, 1976- ( 032700968 )典拠
出版年月日等
2022.9
出版年(W3CDTF)
2022
数量
239p