テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える

• Material Type: 図書
• ISBN: 978-4-7795-1683-2
• Title: テストは何のためにあるのか : 項目反応理論から入試制度を考える
• Title Transcription: テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ : コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
• Author/Editor: 光永悠彦 編著; 西田亜希子 著
• Author Heading: 著者 ： 光永, 悠彦, 1979- ミツナガ, ハルヒコ, 1979- ( 001258249 )Authorities; 著者 ： 西田, 亜希子, 1976- ニシダ, アキコ, 1976- ( 032700968 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: 京都 : ナカニシヤ出版 (出版)
• Publication Date: 2022.9
• Publication Date (W3CDTF): 2022
• Extent: 239p
• Size: 26cm
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Content Type: テキスト
• Media Type: 機器不用
• Carrier Type: 冊子
• Subject Heading: 入学試験--大学--日本 ニュウガクシケン ダイガク ニホン ( 01031945 )Authorities
• NDC 10th ed.: 376.87 : Pre-school. Elementary and secondary education
• NDLC: FB35
• Target Audience: 一般
• Note (Bibliography): 文献あり 索引あり
• Price: 3300円
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: FB35-M96
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 032396037; http://id.ndl.go.jp/bib/032396037
• National Bibliography No. (JPNO): 23808988
• TOHAN MARC No.: 34398719
• Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules 2018 Edition
• Bibliographic Record Category (NDL): 111

• Summary, etc.: 大学受験における共通テストを年複数回行うような制度はどうすれば実現可能なのか。これからの大学入試制度を考えるための必携書(Provided by: 出版情報登録センター（JPRO）)
• Author introduction: 光永 悠彦 光永悠彦（みつなが はるひこ） 1979年北海道生まれ。人事院人材局試験専門官室，島根大学教育・学生支援機構 講師を経て，名古屋大学大学院教育発達科学研究科准教授。東京工業大学大学院社会理工学研究科人間行動システム専攻博士課程修了，博士（学術）。 専門は心理統計学，テスト理論，多変量解析...

Table of Contents

はじめに

第1部　共通入試のあるべき姿：これからの入試の仕組み，教育の仕組み

第1章　メリトクラシーと日本の入試

1-1　みんなが受験する入試

1-2　学歴社会が普及し，変質しやすい日本