Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
• 著者・編者: Matsumoto, Takashi
• 著者標目: Matsumoto, Takashi
• 出版事項: 京都大学 (Kyoto University)
• 出版年月日等: 2015-03-23
• 出版年（W3CDTF）: 2015-03-23
• 並列タイトル等: バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
• 寄与者: 小野寺, 秀俊; 髙木, 直史; 佐藤, 高史
• 授与機関名: 京都大学
• 授与年月日: 2015-03-23
• 授与年月日（W3CDTF）: 2015-03-23
• 報告番号: 甲第19137号
• 学位: 博士(情報学); Doctor of Informatics
• 博論授与番号: 甲第19137号
• 本文の言語コード: eng
• 著者別名: 松本, 高士; マツモト, タカシ
• 件名標目: CMOS; NBTI; RTN; combinational circuit; gate oxide; reliability; noise
• NDC: 007
• 対象利用者: 一般
• 一般注記: 元資料の権利情報 : 許諾条件により本文は2016/03/22に公開; 元資料の権利情報 : ©2012 IEEE, ©2013 IEEE, ©2014 IEEE, ©2011 Japan Soc. App. Phys., ©2012 Japan Soc. App. Phys., ©2013 Japan Soc. App. Phys.
• DOI: 10.14989/doctor.k19137; https://doi.org/10.14989/doctor.k19137
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/10300706; https://dl.ndl.go.jp/pid/10300706
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• 収集根拠: 博士論文（自動収集）
• 受理日（W3CDTF）: 2017-02-09T20:08:30+09:00
• 作成日（W3CDTF）: 2016-03-22
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 掲載誌（URI）: http://dx.doi.org/10.14989/doctor.k19137; http://hdl.handle.net/2433/199461
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp