Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits

• Material Type: 博士論文
• Title: Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
• Author/Editor: Matsumoto, Takashi
• Author Heading: Matsumoto, Takashi
• Publication, Distribution, etc.: 京都大学 (Kyoto University)
• Publication Date: 2015-03-23
• Publication Date (W3CDTF): 2015-03-23
• Alternative Title: バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
• Contributor: 小野寺, 秀俊; 髙木, 直史; 佐藤, 高史
• Degree grantor/type: 京都大学
• Date Granted: 2015-03-23
• Date Granted (W3CDTF): 2015-03-23
• Dissertation Number: 甲第19137号
• Degree Type: 博士(情報学); Doctor of Informatics
• Conferring No. (Dissertation): 甲第19137号
• Text Language Code: eng
• Alias of Author: 松本, 高士; マツモト, タカシ
• Subject Heading: CMOS; NBTI; RTN; combinational circuit; gate oxide; reliability; noise
• NDC: 007
• Target Audience: 一般
• Note (General): 元資料の権利情報 : 許諾条件により本文は2016/03/22に公開; 元資料の権利情報 : ©2012 IEEE, ©2013 IEEE, ©2014 IEEE, ©2011 Japan Soc. App. Phys., ©2012 Japan Soc. App. Phys., ©2013 Japan Soc. App. Phys.
• DOI: 10.14989/doctor.k19137; https://doi.org/10.14989/doctor.k19137
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/10300706; https://dl.ndl.go.jp/pid/10300706
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
• Date Accepted (W3CDTF): 2017-02-09T20:08:30+09:00
• Date Created (W3CDTF): 2016-03-22
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Periodical Title (URI): http://dx.doi.org/10.14989/doctor.k19137; http://hdl.handle.net/2433/199461
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp