Understanding Silicon Surface Chemical CIeaning/Passivation Using Aqueous HF Solutions : Beam Induced Physics and Chemistry

• 資料種別: 記事
• タイトル: Understanding Silicon Surface Chemical CIeaning/Passivation Using Aqueous HF Solutions : Beam Induced Physics and Chemistry
• 著者・編者: HIGASHI,G.S.
• 出版事項: 日本 : Japanese Journal of Applied Physics
• 出版年月日等: 1992-04-30
• 出版年（W3CDTF）: 1992-04-30
• タイトル（掲載誌）: JJAP series
• 巻号年月日等（掲載誌）: 5
• 掲載巻: 5
• 掲載ページ: 255-259
• 本文の言語コード: ENG
• 件名標目: HF acid etching; reaction mechanisms; infrared spectroscopy; surface chemistry; scanning tunneling microscopy; hydrogen terminated silicon; surface morphology
• 一般注記: 著者所属: AT&T Bell Laboratories
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/10472596; https://dl.ndl.go.jp/pid/10472596
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• 収集根拠: NII-ELS
• 公開開始日（W3CDTF）: 2017-08-23
• 受理日（W3CDTF）: 2017-08-15
• 保存日（W3CDTF）: 2017-08-15
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/10389312; https://dl.ndl.go.jp/pid/10389312
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: Dissolution of Si surface oxides in HF acid lead to Si surfaces which are atomically clean and terminated passivity with hydrogen. Hydrogen terminates...